يقدم هذا الدليل الإلكتروني نظرة متعمقة على نظام X34C للأشعة السينية المدمجة، جهاز مصمم خصيصًا لاكتشاف الشوائب في المنتجات الصغيرة المغلفة بشكل فردي. يركز الدليل على ثلاثة مبادئ أساسية تشكل حجر الأساس لتصميم X34C:
- البصمة المدمجة: يسمح التصميم المبسط للنظام بالاندماج بسلاسة في خطوط الإنتاج المزدحمة حيث قد لا تتناسب الأنظمة الأخرى.
- قدرات عالية السرعة: يتحدث هذا المبدأ عن قدرة النظام على الاندماج مع خطوط إنتاج عالية السرعة دون التسبب في أي تباطؤ في معدلات الإنتاج.
- أداء الدقة: يسلط هذا الضوء على توافر الأدوات الضرورية التي يحتاجها المشغلون للإعداد الصحيح للماكينة ، فضلاً عن الدقة التي يضمنها X34C عند اكتشاف التلوث في العبوات الفردية الصغيرة.
يوضح الدليل بالتفصيل كيفية ترجمة هذه المبادئ الثلاثة إلى فوائد ملموسة للمستخدمين.
